GALERIA                                                         LABORATÓRIOS

 

Microscopia de Varrimento de Sensor - SPM: AFM / MFM / STM

Imagem de SEM (modo de Electrões Secundários) de uma Ponta Veeco RTESP.

Ponta alinhada com o topo de uma partícula esférica.

Ponta Veeco RTESP (SEM - Imagem de SE)

Ponta alinhada com uma partícula esférica