Unidade de Imagem, Microestrutura e Microanálise - IMICROS

 

 

Laboratório de Microscopia Eletrónica de Varrimento e Microanálise por Raios X  

 

Contactos Licª Daniela Silva  e Mestre Rui Rocha:  lmev@cemup.up.pt

                     Responsável Científico:   Doutor Carlos Pinto Moreira de Sá,  email: cmsa@cemup.up.pt   

       

Normas de acesso e prestação de serviços: Regulamento de Utilização e Prestação de Serviços (pdf)  

                                                                              Acesso, Serviços e Formação

 

Equipamentos

 

Microscópio Eletrónico de Varrimento ambiental, de alta resolução (Schottky),

com Microanálise por Raios X

e Análise de Padrões de Difração de Eletrões Retrodundidos

 FEG-ESEM / EDS / EBSD

    • FEI Quanta 400FEG ESEM / EDAX Genesis X4M  [*]

 

Microscópio Eletrónico de Varrimento de alta resolução,

com Microanálise por Raios X

e sistema para observação de amostras a baixa temperatura:

FE - CryoSEM / EDS

    • JEOL JSM 6301F/ Oxford INCA Energy 350 / Gatan Alto 2500  [*]

 

 

Métodos experimentais

 

  • Microscopia Eletrónica de Varrimento em alto vácuo (SEM)

o        resolução de 1.2 nm

o        modos de imagem: eletrões secundários (ES) e retrodifundidos (ER)

 

  • Microscopia Eletrónica de Varrimento em baixo vácuo (LVSEM) e ambiental (ESEM)

o        observação de amostras não condutoras sem revestimento

o        compatibilidade com amostras hidratadas

o        observação de amostras a baixa temperatura ( até -25º) e alta-temperatura (até 1000º)

 

  • Microscopia de Varrimento e Transmissão em SEM (SEM/STEM)

o        observação em STEM de amostras delgadas com preparação para microscopia eletrónica de transmissão

 

  • Crio-Microscopia Eletrónica de Varrimento (CryoSEM)

o        observação e análise da superfície livre e de fratura de amostras fixadas à temperatura do azoto líquido (LN2)

LMEV1

  • Microanálise por Raios X (EDS)

o        análise elementar ( do Boro ao Urânio )

o        análise de filmes e revestimentos delgados

o        mapas e perfis de distribuição elementar

o        análise automática e programada de fases e partículas

 

  • Análise de Padrões de Difração de Eletrões Retrodifundidos (EBSD)

o        identificação da simetria de materiais cristalinos – análise de fases

o        análise de orientação cristalina, mapas de orientação cristalina

 

  • Digitalização e Análise Quantitativa de Imagem 

o        registo digital, processamento e análise de imagens de SEM / EDS / EBSD

 

  • Preparação de amostras 

o        revestimento com filmes, por pulverização iónica ou vaporização 

 

[*]  Equipamentos financiados no âmbito do “Programa Nacional de Re-equipamento Científico” da FCT.

 

e integrados na RNME - Rede Nacional de Microscopia Eletrónica 

 

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