Unidade de Imagem, Microestrutura e Microanálise - IMICROS

Atividades de Formação, Demonstração e Divulgação

Técnicas de caracterização de materiais com elevada resolução espacial do CEMUP

  • SEMINÁRIOS E DEMONSTRAÇÃO EXPERIMENTAL - introdução aos métodos experimentais, para investigadores, técnicos superiores, estudantes de mestrado e doutoramento e técnicos superiores do sistema científico e tecnológico e das empresas.

  • SEMINÁRIOS DE PROCESSAMENTO E ANÁLISE DE DADOS - análise de dados para utilizadores das técnicas,  investigadores, técnicos superiores, estudantes de mestrado e doutoramento e técnicos superiores do sistema científico e tecnológico e das empresas.

  • Cursos de formação de utilizadores para operação autónoma dos equipamentos.

  • Cursos de curta duração para grupos específicos de investigadores.

  • Colaboração em atividades curriculares da universidade:  cursos, lições, seminários, visitas de estudo e sessões de demonstração – em resposta a solicitação dos responsáveis do curso ou da disciplina.

  • Seminários de apresentação das competências e facilidades e experimentais do CEMUP a Grupos de Interesse – por solicitação de um grupo de investigadores (GI) ou de uma empresa.

  • Acções temáticas de demonstração experimental – por solicitação de um grupo de investigadores (GI) ou de uma empresa.

 


SEMINÁRIOS

CURSOS DE FORMAÇÃO DE UTILIZADORES

para utilização autónoma dos Laboratórios

Oportunidades de formação nos fundamentos, métodos e aplicações, e demonstração das facilidades experimentais existentes nos laboratórios do CEMUP, permitindo o contacto directo com os equipamentos e respectivas condições de operação e utilização.

 

SEMINÁRIOS DO CEMUP

     PARTICIPAÇÃO LIVRE   

 Docentes, Investigadores, e estudantes de Mestrado e Doutoramento

 Técnicos Superiores do Sistema Científico e Tecnológico Nacional e das Empresas

 

Inscrição por correio electrónico >> Procedimento de Inscrição

DATAS DE REALIZAÇÃO DOS SEMINÁRIOS EM 2017

A PUBLICAR ATÉ 20/01/2017

 

Seminário / Dia

Técnicas Análise de Dados

Mês

A

SEM

B

EDS

EBSD

C

XPS

D

AFM

DA_A

SEM

DA_B

EDS

EBSD

DA_C

XPS

DA_D

AFM

Janeiro                
Fevereiro                
Março 28 31 24       27  
Abril 7 11 26 18     28  
Maio 23 26           3
Junho     6   20 23 9  
Julho 4 7   11        
Setembro     22 26     29  
Outubro 4 10     17 20   13
Novembro     10 17     24  
Dezembro 5 12            

Os Seminários DA_A/B/C/D destinam-se a utilizadores  que dispõem de dados experimentais para análise

(é necessário PC)

 

Seminários e Demonstração Experimental

 

DESIGNAÇÃO

TÉCNICA - EQUIPAMENTO

A

Microscopia Eletrónica de Varrimento - SEM 

 SEM em baixo vácuo e ambiental - LVSEM / ESEM

 SEM a baixa temperatura - CryoSEM

Equipamento:   Jeol JSM 6301F - Gatan Alto 2500

              FEI Quanta 400 FEG ESEM 

Programa

SEM - Fundamentos e instrumentação.

Modos de observação, condições de contraste e resolução.

Preparação das amostras.

SEM em condições de baixo vácuo e modo ambiental - LVSEM / ESEM.

SEM a baixa temperatura - CryoSEM

 

Duração:  4h30 - Número de participantes: 10

9h00 -12h00: Introdução Teórica

12h30 - 14h00: Demonstração experimental

B

Microanálise por Raios-X -  EDS

Análise de Padrões de Difração de Eletrões Retrodifundidos - EBSD

Equipamento:   FEI Quanta 400 FEG ESEM / EDAX Genesis X4M 

Programa

EDS - Fundamentos e instrumentação.

Análise qualitativa e quantitativa. Mapas e perfis de distribuição elementar.

Preparação das amostras.

EBSD - Fundamentos e instrumentação.

Análise de fases, mapas de orientação e análise de texturas.

Preparação das amostras.

 

Duração:  4h30 - Número de participantes: 10

9h00 -12h00: Introdução Teórica

12h30 - 14h00: Demonstração experimental

C

Análise de Superfícies por Espectroscopia de Eletrões

          Espectroscopia de Fotoeletrões de Raios X – XPS

Equipamento: Kratos Axis Ultra HSA

Programa

Fundamentos e instrumentação

XPS - Fundamentos. Caracterização dos espectros  XPS.

Análise qualitativa, de ligação química e quantitativa. 

Análise da composição em espessura.

 

Duração:  5h - Número de participantes: 10

9h00 -12h00: Introdução Teórica

14h00 - 16h00: Demonstração experimental

D

Microscopia de Varrimento de Sensor-  SPM: AFM/MFM/STM

Microscopia de Força Atómica - AFM / Microscopia de Força Magnética - MFM 

 Microscopia de Efeito de Túnel - STM

Equipamento: Multimode / Nanoscope IV Veeco Metrology

Programa

SPM - Fundamentos e instrumentação.

Caracterização dos diferentes modos de operação AFM/MFM/STM

Condições experimentais e controlo de operação

Processamento e análise de dados

 

Duração:  5h - Número de participantes: 10

9h00 -12h00: Introdução Teórica

14h00 - 16h00: Demonstração experimental

 

 

Seminários de Processamento e Análise de Dados

Destinados  a investigadores que dispõem de dados experimentais cuja análise pretendem aprofundar

 

 

Processamento e Análise de Dados para as técnicas analíticas da

Unidade de Imagem, Microestrutura e Microanálise - IMICROS  

  •   Classes e estruturas de dados adquiridos no processo de análise

  •   Software de processamento e análise de dados para a técnica considerada

  •   Aplicações e exemplos de processamento e análise de dados dos participantes

Duração: 3h (9h00-12h00)  - Numero de participantes: 15

 

DA_A

Processamento e Análise de Imagem

        de Microscopia Eletrónica de Varrimento e de Microscopia Ótica

DA_B

Processamento e Análise de Dados

obtidos em Microanálise por Raios X - EDS

DA_C

Processamento e Análise de Dados  

para Espectroscopia de Fotoeletrões de Raios X

DA_D

Processamento e Análise de Dados  

para Microscopia de Varrimento de Sensor - AFM


 

CURSOS DE FORMAÇÃO DE UTILIZADORES

para utilização autónoma dos Laboratórios

O CEMUP realiza cursos de formação para credenciação de investigadores

para utilização autónoma dos Laboratórios, nas técnicas/equipamentos:

 

DESIGNAÇÃO

TÉCNICA - EQUIPAMENTO

SEM_1

 Microscopia Eletrónica de Varrimento

 FEI Quanta 400FEG ESEM

SEM/EDS_1

Microscopia Eletrónica de Varrimento e Microanálise por Raios X

FEI Quanta 400FEG ESEM / EDAX Genesis X4M

SEM_2

Microscopia Eletrónica de Varrimento

 Jeol JSM6301F

SEM/EDS_2

Microscopia Eletrónica de Varrimento e Microanálise por Raios X

Jeol JSM6301F / Oxford INCA Energy 350

XPS_1

Espectroscopia de Fotoeletrões de Raios X

VG Scientific ESCALAB 200A

AFM_1

Microscopia de Força Atómica

Veeco Metrology Multimode / Nanoscope IVA

de acordo com:

A inscrição nestes cursos está aberta em permanência


Qualquer manifestação de interesse nas iniciativas previstas deverá ser enviada para o CEMUP
o que permitirá o envio aos interessados e em tempo útil de toda a informação.